如何从美光NAND Flash编码分辨品质

美光NAND Flash编码解读：

AA：无读ID功能
AC：无缓存功能
AW：无写保护功能
AL：通过低端SSD/USB闪存盘/SD卡测试
AF：通过低端USB闪存盘/SD卡测试
AS：通过SSD测试
AR：降低速度要求通过测试
AT：一次性编程
HP：容量减半
ES：工程样片
S2：第一次测试未通过
S3：第二次测试未通过，第三次测试通过
S5：部分通过测试，预计测试通过部分占50%
S7：部分通过测试，预计测试通过部分占70%
S8：部分通过测试，预计测试通过部分占80%
S9：部分通过测试，预计测试通过部分占90%
SG：简单测试通过，扩展测试不通过
SS：简单测试不通过